légende migsdc1

Migration d'une hyperbole de diffraction par superposition de demi-cercles
  • Point diffractant en x = 500 m, z = 300 m
  • Diffraction issue au temps t = 0 du point ci-dessus, enregistrée en z = 0. Les temps sont des temps-double (aller-retour tels que t = 2z/V pour un trajet vertical).
  • Migration de la trace en x = 0 : les amplitudes non-nulles enregistrées autour de 0.6 s sont placées dans le plan x,z sur le demi-cercle de rayon r = Vt/2 = 600 m centré en x = 0
  • Superposition des demi-cercles provenant de toutes les traces du plan x,t : les demi-cercles se croisent sur la position du point diffractant, où les amplitudes s'additionnent constructivement alors que les interférences sont destructives ailleurs.
    Les demi-cercles issus de x = 0 et x = 1000 m restent visibles dans le plan x,z : il s'agit d'un artefact du à la troncation de l'hyperbole de diffraction aux extrémités de l'axe x.

    légende migsdc2

    Points diffractants alignés sur un segment de réflecteur horizontal
  • Points diffractants alignés en z = 300 m avec un intervalle de 50 m
  • Sommation des diffractions issues au temps t = 0 des points ci-dessus, enregistrées en z = 0. Les temps sont des temps-double (aller-retour tels que t = 2z/V pour un trajet vertical).
    Les diffractions interfèrent constructivement sur la réflexion au temps t = 2z/V.
    Les interférences destructives ailleurs sont imparfaites car les points diffractants sont trop éloignés les uns des autres et les diffractions ne se superposent pas suffisamment.
  • Migration de la trace en x = 0 : les amplitudes non-nulles provenant de chaque diffraction sont placées dans le plan x,z sur les demi-cercles centrés en x = 0 et de rayons correspondant aux temps d'arrivée de chaque diffraction en x = 0
  • Superposition des demi-cercles provenant de toutes les traces du plan x,t : les amplitudes s'additionnent constructivement sur la position des points diffractants alignés sur le segment de réflecteur.
    Les interférences destructives ailleurs sont imparfaites à cause de de l'éloignement trop grand des points diffractants et des effets de troncation en x.

    légende migsdc3

    Points diffractants alignés sur un segment de réflecteur penté
  • Points diffractants alignés sur un segment de réflecteur de pendage α = 30°, avec un intervalle de 50 m
  • Sommation des diffractions issues au temps t = 0 des points ci-dessus, enregistrées en z = 0. Les temps sont des temps-double (aller-retour tels que t = 2z/V pour un trajet vertical).
    Les diffractions interfèrent constructivement sur la réflexion de pente dt/dx = 2sin(30°)/V = 5 10-4 s/m
    Les interférences destructives ailleurs sont imparfaites car les points diffractants sont trop éloignés les uns des autres et les diffractions ne se superposent pas suffisamment.
  • Migration de la trace en x = 0 : les amplitudes non-nulles provenant de chaque diffraction sont placées dans le plan x,z sur les demi-cercles centrés en x = 0 et de rayons correspondant aux temps d'arrivée de chaque diffraction en x = 0
  • Superposition des demi-cercles provenant de toutes les traces du plan x,t : les amplitudes s'additionnent constructivement sur la position des points diffractants alignés sur le segment de réflecteur.
    Les interférences destructives ailleurs sont imparfaites à cause de de l'éloignement trop grand des points diffractants et des effets de troncation en x.

    légende migsdc4

    Points diffractants alignés sur un réflecteur courbé
  • Points diffractants alignés sur un segment de réflecteur de forme sinusoïdale simulant un fond de structure synclinale.
  • La réflexion obtenue par sommation des diffractions issues des points ci-dessus montre la triplication due à la forte courbure du synclinal
  • Migration de la trace en x = 0
  • Superposition des demi-cercles provenant de toutes les traces du plan x,t : les amplitudes s'additionnent constructivement sur la position des points diffractants alignés sur le segment de réflecteur courbé.
    Les interférences destructives ailleurs sont imparfaites à cause de de l'éloignement trop grand des points diffractants et des effets de troncation en x.